Simposio Internacional de Metrología: de la idea a la materialización

Director de Metrología ONN; Director del Servicio Nacional de       Metrología; Miembro CIML-OIML; Miembro extranjero de la Academia Rusa de Metrología.

A lo largo de estos años con el objetivo de desarrollar la cultura metrológica en el país se han venido desarrollando eventos para divulgar la actividad y dar a conocer los logros alcanzados, en la década de los 80 se realizan los primeros eventos con la participación de los especialistas nacionales. En el marco del VII Fórum de Piezas y repuestos en el año 1987, a partir de los trabajos presentados donde tuvieron un importante impacto la metrología, el comandante Pedro Miret propuso realizar un evento internacional de metrología, ello se materializa con la celebración del I Simposio Internacional de Metrología en el año 1990, cuya edición se viene repitiendo cada tres años.

En esta ocasión celebraremos su oncena edición, que debió realizarse el pasado año, pero la pandemia lo impidió. Esta vez un poco reducido y en otro formato a tono a las condiciones actuales, virtual, pero igualmente esperamos tener los resultados de sus ediciones anteriores, ser un medio para divulgar y socializar los resultados de la metrología cubana, un escenario de intercambio internacional de expertos, un espacio para identificar y hacer relaciones para  futuras colaboraciones. En esta oportunidad van intervenir con conferencias importantes personalidades con temas muy actuales y que representan organizaciones internacionales y regionales de América, Europa y Asia.

Por último agradecer a los conferencistas magistrales por su contribución de presentaciones de alto nivel científico-técnico, a los colegas cubanos y extranjeros ponentes por enriquecer el evento compartiendo sus experiencias a través de sus trabajos y a los auspiciadores, donde se encuentra por cierto una cooperativa, por su apoyo a realizar esta edición, a DESOFT por su contribución y haber facilitado una plataforma 100% cubana para desarrollarlo.